2023년 2월 23일

나노계측학을 위한 X-선 간섭계와 실리콘 격자상수
측정과학

나노계측학을 위한 X-선 간섭계와 실리콘 격자상수

서호성
2019년 SI 단위계가 새로 제정됨에 따라서, 길이자문위원회에서 미터 정의 실현을 위해 추천하는 일차적인 방법을 이전 글에서 살펴보았습니다. 이번 글에서는 나노계측학에서 미터 정의를 실현하기 위한 이차적인 방법에 대해 알아보고자 합니다. 단순히 빛과 시계를 이용하여 원자 크기를 표현하는 단위인 옹스트롬이나 나노미터 수준에서 길이를 측정하려면 시간을 10^-17초나 10^-18초 수준까지 정확히 측정할 수 있어야 합니다. 현존하는 기술로 불가능하지는 않지만 대단히 어려운 작업이기 때문에 나노계측학에서 길이를 측정하기 위해 보다 현실적이고, 기술적으로 유용한 방법이 필요합니다. 이를 위해 고안된 방법은 단결정 물질의 격자 상수를 정밀하게 측정하여, 이를 나노미터 수준에서 길이의 단위로 사용하는 것입니다. 이때 주로 실리콘 단결정이 사용됩니다.
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